各位電源界專家，各位前輩，各位老師，各位版主，各位大神，各位大俠，各位大牛：

掃地僧向你們致敬了！

看來大家都已經(jīng)習慣于寧愿將時間花費在看手機做低頭一族上，也罷，直奔主題說焦點——

交流電源一次側的X電容與和它并聯(lián)的放電電阻的時間常數(shù)乘積，這個放電時間按目前的普遍使用參數(shù)計算，100%都會引起激蕩而出現(xiàn)高壓尖峰沖擊，這是電源電路以及整個電路系統(tǒng)各種并發(fā)癥的主要誘因。

牽涉到EMI濾波器和壓敏電阻方面的分析和辯論，大家可以保留自己的習慣性理解。但請記?。簩⒎烹姇r間控制在時間常數(shù)公式限定的范圍內(nèi)，是消除安全隱患，提升電源品質與可靠性的唯一辦法?；驹砭驮谀抢?，你愿意看見，或者堅持無視，都永遠在那里。

當然，懶得，或者不屑于經(jīng)過實驗去驗證高阻值電阻會引發(fā)激蕩尖峰電壓的攻城獅們，可以繼續(xù)認為目前的品質和這個標準沒有任何關系的，無視這個基本的電子學原理，繼續(xù)維持現(xiàn)狀的結果是什么，就不多做討論了，在附件文檔里都有敘述。

追本溯源說安全，

燈下已黑一百年，

多少專家頻問計，

不在天邊在眼前。

重要的事至少得說三遍：1、實驗！驗證！2實驗！驗證！3實驗！驗證！

以下感慨還是保留給有余暇的朋友們

愛因斯坦的警世名言說過:"宇宙中唯有兩件事物是無限的：宇宙的大小與人的愚蠢，我不能確定的是宇宙的大小。”

掃地僧進而認為：“人類真正的愚蠢，往往并不在于明顯的智商余額不足，而在于高智商的人們常常挾帶著智商優(yōu)越感想當然的認為:任何智商正常的人,尤其象(IEC)以及( IEEE)中那些嚴謹、頂級的高智商專家,更決不會犯下原理極其簡單的低級錯誤。”

在下一介掃地和尚，也許是眼尖，也許只是多看了一眼，也許只是多想了一會，順著這個標準的缺陷向下挖，就看到了這個我認為是裝下了整個電子行業(yè)的天坑——上帝之坑。

由于在下終究才疏學淺，肯定難免存在疏漏和不足。所以懇請各位閱讀完附件文檔之后，無論是否已經(jīng)相信我在附件文檔中描述的內(nèi)容，都務必親自做完那個驗證實驗，再來一起討論這個大坑是不是上帝之坑，以及這個時間常數(shù)公式是不是一座不可或缺的保障基石，都請在此發(fā)表意見和感受吧。

掃地僧以為，當你不明確知道這個缺陷之前，尚可以心安理得，當你知道了，就再也無法忽視它——象一道拿不掉的必須存在的門檻。

所以，雁過留聲，人過留名，路過，不應留遺憾，請留爪痕！

希望大家正在參與、見證和經(jīng)歷的，是一段值得回憶的意義非同尋常的歷史。

謝謝大家?。。?

解剖國際電工委員會（IEC）的錯誤安規(guī)標準.pdf

結束滿世界燈下黑的狀態(tài)。

沒有人在意，是因為大家都在坑里嗎？

如果認為燈下黑的缺陷無關緊要，會繼續(xù)付出代價的。

點贊你的精神，順便說一下，那個電容不足以造成功率因數(shù)大變化，而且不是電壓反向綜合掉電容的電核而造成功耗增加，要動態(tài)看電容。

減少電阻造成額外功耗，你測的電壓600v還是400v是掉電速度的事，峰值與電阻無關，持續(xù)時間倒是和電阻成正比例，不信用高阻示波器探頭看看。